An ultrafast mechanical test system for bending fatigue studies of multilayered electronic components

  • Golta Khatibi (Autor*in)
  • Brigitte Weiss (Autor*in)
  • Viktor Gröger (Autor*in)

Aktivität: VorträgePosterpräsentationScience to Science

Zeitraum2012
EreignistitelElectronics System Integration Technology Conferences (ESTC) IEEE-CPMT
VeranstaltungstypKonferenz
OrtAmsterdam, NiederlandeAuf Karte anzeigen