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Focused-ion-beam nano-machining: A tool for high-precision sample preparation for ion irradiation

  • Chutimun Chanmuang Nasdala (Vortragende*r)
  • Habler, G. (Autor*in)
  • Christoph Lenz (Autor*in)
  • Nasdala, L. (Autor*in)

Aktivität: VorträgeVortragScience to Science

Zeitraum26 Feb. 2020
Ereignistitel37th International Conference of the Microscopy Society of Thailand
VeranstaltungstypKonferenz
OrtNakhon Ratchasima, ThailandAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational