Migration Enthalpy investigation of deformation induced lattice defects in HPT processed Cu and Ni measured with Differential Scanning Calorimetry

Aktivität: VorträgeVortragAndere

Zeitraum15 Feb. 2009
EreignistitelTMS 2009 Annual Meeting and Exhibition
VeranstaltungstypKonferenz
OrtSan Francisco, USA / Vereinigte StaatenAuf Karte anzeigen