STEM analysis of freestanding monolayer h-BN irradiated with slow highly charged ions

Aktivität: VorträgePosterpräsentationScience to Science

Zeitraum6 Sep. 2022
EreignistitelMultinational Congress on Microscopy
VeranstaltungstypKonferenz
Konferenznummer16
OrtBrno, Tschechische RepublikAuf Karte anzeigen