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2025
A structural analysis of ordered Cs3Sb films grown on single crystal graphene and silicon carbide substrates
Pennington, C. A., Gaowei, M., Echeverria, E. M., Evans-Lutterodt, K., Galdi, A., Juffmann, T., Karkare, S., Maxson, J., van der Molen, S. J., Saha, P., Smedley, J., Stam, W. G. & Tromp, R. M., Jan. 2025, in: APL Materials . 13, 1, 9 S., 011120.Veröffentlichungen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Peer Reviewed
Open Access -
2024
Growth of ultra-flat ultra-thin alkali antimonide photocathode films
Stam, W. G., Gaowei, M., Echeverria, E. M., Evans-Lutterodt, K., Jordan-Sweet, J., Juffmann, T., Karkare, S., Maxson, J., van der Molen, S. J., Pennington, C., Saha, P., Smedley, J. & Tromp, R. M., Juni 2024, in: APL Materials . 12, 6, 8 S., 061114.Veröffentlichungen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Peer Reviewed
Open Access -
Quantum limits of position and polarizability estimation in the optical near field
Kienesberger, L., Juffmann, T. & Nimmrichter, S., Apr. 2024, in: Physical Review Research. 6, 2, 25 S., 023204.Veröffentlichungen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Peer Reviewed
Open Access -
Unified Simulation Platform for Interference Microscopy
Hitzelhammer, F., Dostálová, A., Zykov, I., Platzer, B., Conrad-Billroth, C., Juffmann, T. & Hohenester, U., 17 Juli 2024, in: ACS Photonics. 11, 7, S. 2745-2756 12 S.Veröffentlichungen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Peer Reviewed
Open Access -
2021
Optical Near-Field Electron Microscopy
Marchand, R., Šachl, R., Kalbáč, M., Hof, M., Tromp, R., Amaro, M., van der Molen, S. J. & Juffmann, T., 6 Juli 2021, in: Physical Review Applied. 16, 1, 8 S., 014008.Veröffentlichungen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Peer Reviewed