Automated Real-time Analysis of Atomic-resolution STEM Images

Jacob Madsen (Korresp. Autor*in), Andreas Postl, Toma Susi

Veröffentlichungen: Beitrag in FachzeitschriftMeeting Abstract/Conference PaperPeer Reviewed

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)166-167
Seitenumfang2
FachzeitschriftMicroscopy and Microanalysis
Jahrgang25
AusgabenummerS2
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Aug. 2019
VeranstaltungMicroscopy and Microanalysis - Oregon convention center, Portland, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 4 Aug. 20198 Aug. 2019
Konferenznummer: 2019
https://www.microscopy.org/MandM/2019/

ÖFOS 2012

  • 103042 Elektronenmikroskopie
  • 103018 Materialphysik

Zitationsweisen