Combining TEM diffraction and imaging for a complete structural analysis of bulk nanocrystalline materials using example of FeAl

Christoph Gammer, Clemens Mangler, Hans-Peter Karnthaler, Christian Rentenberger

Veröffentlichungen: Beitrag in BuchBeitrag in Konferenzband

OriginalspracheEnglisch
TitelProceedings of the Microscopy Conference Kiel, DGE
Herausgeber (Verlag)Unknown publisher
ISBN (Print)978-3-00-033910-3
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011

ÖFOS 2012

  • 1030 Physik, Astronomie
  • 210006 Nanotechnologie
  • 103018 Materialphysik

Zitationsweisen