Quantitative local scale analysis by electron diffraction applied to nanocrystalline FeAl

Christoph Gammer, Clemens Mangler, Christian Rentenberger, Hans-Peter Karnthaler

Veröffentlichungen: Beitrag in BuchBeitrag in Konferenzband

OriginalspracheEnglisch
TitelMC2009 Conference Proceedings
Herausgeber (Verlag)Unknown publisher
Seiten295-296
Seitenumfang2
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009

ÖFOS 2012

  • 103023 Polymerphysik
  • 210006 Nanotechnologie
  • 103018 Materialphysik

Zitationsweisen