Scanning Transmission Electron Microscopy as a Part of an Integrated Vacuum Setup for Growth and Manipulation of 2D Materials

Umair Javed, Carsten Speckmann, Wael Joudi, Manuel Längle, Alberto Trentino, Elina Harriet Ahlgren, David Lamprecht, Clemens Mangler, Kimmo Mustonen, Toma Susi, Jani Kotakoski (Korresp. Autor*in)

Veröffentlichungen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelPeer Reviewed

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummerozae044.547
Seitenumfang2
FachzeitschriftMicroscopy and Microanalysis
Jahrgang30
AusgabenummerSupplement_1
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 24 Juli 2024

ÖFOS 2012

  • 103042 Elektronenmikroskopie
  • 210004 Nanomaterialien
  • 103018 Materialphysik

Zitationsweisen