Silicon Substitution in Monolayer Hexagonal Boron Nitride

Mohammad Reza Ahmadpour Monazam; Ursula Ludacka; Hannu-Pekka Komsa; Jani Kotakoski

doi:10.1017/S1431927619011140

Silicon Substitution in Monolayer Hexagonal Boron Nitride

Mohammad Reza Ahmadpour Monazam (Korresp. Autor*in), Ursula Ludacka, Hannu-Pekka Komsa, Jani Kotakoski

Physik Nanostrukturierter Materialien

Veröffentlichungen: Beitrag in Fachzeitschrift › Meeting Abstract/Conference Paper › Peer Reviewed

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	2082–2083
Seitenumfang	2
Fachzeitschrift	Microscopy and Microanalysis
Jahrgang	25
Ausgabenummer	S2
DOIs	https://doi.org/10.1017/S1431927619011140
Publikationsstatus	Veröffentlicht - Aug. 2019

ÖFOS 2012

103009 Festkörperphysik

Zugriff auf Dokument

10.1017/S1431927619011140

Atomare Kontrolle über 2D-Materialien mit Ionenbestrahlung
Kotakoski, J. (Projektleiter*in)
1/10/18 → 30/09/22
Projekt: Forschungsförderung

Zitationsweisen

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TY - JOUR

T1 - Silicon Substitution in Monolayer Hexagonal Boron Nitride

AU - Ahmadpour Monazam, Mohammad Reza

AU - Ludacka, Ursula

AU - Komsa, Hannu-Pekka

AU - Kotakoski, Jani

PY - 2019/8

Y1 - 2019/8

U2 - 10.1017/S1431927619011140

DO - 10.1017/S1431927619011140

M3 - Meeting abstract/Conference paper

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VL - 25

SP - 2082

EP - 2083

JO - Microscopy and Microanalysis

JF - Microscopy and Microanalysis

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ER -

Silicon Substitution in Monolayer Hexagonal Boron Nitride

ÖFOS 2012

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Projekte

Atomare Kontrolle über 2D-Materialien mit Ionenbestrahlung

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