Understanding and Exploiting the Interaction of Electron Beams With Low-dimensional Materials - From Controlled Atomic-level Manipulation to Circumventing Radiation Damage

T. Susi, A. Mittelberger, C. Kramberger, C. Mangler, C. Hofer, T. J. Pennycook, J. Kotakoski, J. C. Meyer

Veröffentlichungen: Beitrag in FachzeitschriftMeeting Abstract/Conference PaperPeer Reviewed

Abstract

Not Available
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)196-197
Seitenumfang2
FachzeitschriftMicroscopy and Microanalysis
Jahrgang23
AusgabenummerS1
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Juli 2017
VeranstaltungMicroscopy and Microanalysis 2017 - St. Louis, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 6 Aug. 201710 Aug. 2017

ÖFOS 2012

  • 103018 Materialphysik
  • 103009 Festkörperphysik
  • 103042 Elektronenmikroskopie

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Understanding and Exploiting the Interaction of Electron Beams With Low-dimensional Materials - From Controlled Atomic-level Manipulation to Circumventing Radiation Damage“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Zitationsweisen